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金属镀层测厚仪器

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XU-100镀层测厚仪

型号:XU-100

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm²,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

1.下照式设计

可以快速方便地定位对焦样品。


2.高精密微型移动滑轨

快速精准定位样品。

3.
微焦X射线装置


最小检测面积可达0.2mm²的样品,可进行各类电镀层膜厚检测。


高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品,几秒钟也能达到稳定性。

4.
变焦装置算法


可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm。


5.先进的EFP算法


多层多元素,包括有同种元素在不同涂镀层的检测,都可以快、准、稳的做出数据分析。

最小检测面积:0.2mm²
可检测0-30mm凹槽异形件
涂镀层最低检出限:0.005μm
电镀层分析,紧固件行业,五金行业,汽车零部件,配饰厚度分析,电子元器件等